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ATTIVITA' DI RICERCA
Sistema di caratterizzazione on wafer e sistema di inkjet printing con relativi esempi di deposizione.
Progetto e sviluppo di un sistema di misura per sensori QCM in liquido in regime statico e dinamico in flusso.
Sistemi di caratterizzazione di sensori SAW basati su circuiti oscillanti e su misure vettoriali. |
