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Strumentazione
Il laboratorio č attrezzato con sistemi per la caratterizzazione elettrica on wafer e in package di sensori e dispositivi elettronici basati sulla seguente strumentazione:
- VNA Agilent 8753ES
- SourceMeter Keithley 2400
- Picoammeter voltage source Keithley 6487
- Lock-in Amplifier Stanford Research 830
- TTi TF930 - 3GHz Universal Frequency Counter
- Oscilloscope Tektronix TDS2022B
- Power Supply Agilent E3631 A
- Data Acquisition / Data Logger Switch Unit Agilent 34970
- Digital Multimeter Agilent 34401A
Sono inoltre presenti i seguenti sistemi Home made:
- Sistema per la deposizione inkjet printing su dispositivi QCM e SAW e per la realizzazione di supporti flessibili conduttivi.
- Sistema di misura per sensori QCM in liquido in regime statico e dinamico in flusso.
- Sistemi di caratterizzazione di sensori SAW basati su circuiti oscillanti e su misure vettoriali.
- Sistema per la caratterizzazione ottica mediante Computer Screen Photo assisted Technique (CSPT).
Sistemi di prototipazione rapida LPKF
ProtoMat S103
ProtoPlace S
ProtoPrint & ProtoFlow E
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